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產(chǎn)品中心
產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備

  • 產(chǎn)品型號:RE-200
  • 產(chǎn)品廠商:OTSUKA大塚電子
  • 產(chǎn)品價格:0
  • 折扣價格:0
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備RE-200 日本大冢低相位差高速檢查設(shè)備RE-200
詳情介紹:

低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200


低相位差高速檢查設(shè)備 RE-200光軸的高精度管理! 3σ≦0.02°
低相位差測量

 

 

 

 

 

 

 

 

產(chǎn)品信息

特 點

? 可測從0nm開始的低(殘留)相位差
? 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
(相當于世界*快速的0.1秒以下來處理)
? 無驅(qū)動部,重復(fù)再現(xiàn)性高
? 設(shè)置的測量項目少,測量簡單
? 測量波長除了550nm以外,還有各種波長
? Rth測量、全方位角測量
(需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具
? 通過與拉伸試驗機組合,可同時評價膜的偏光特性和光弾性
 (本系統(tǒng)屬特注。)

測量項目

? 相位差(ρ[deg.], Re[nm])
? 主軸方位角(θ[deg.])
? 橢圓率(ε)?方位角(γ)
? 三次元折射率(NxNyNz)

用 途

? 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
? 樹脂、玻璃等透明、非均質(zhì)材料(玻璃有變形,歪曲等)

原 理

? 什么是RE-200
? RE-200是光子結(jié)晶素子(偏光素子)、CCD相機構(gòu)成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合,可高速且高精度的測量位相差(相位差)、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式,沒有偏光子旋轉(zhuǎn)的機構(gòu),系統(tǒng)整體上是屬于小型構(gòu)造,長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

仕 樣

型號

RE series

樣品尺寸

*小10×10mm ~*大100×100mm

測量波長

550nm (標準仕樣)※1

相位差測量范圍

約0nm ~約1μm

軸檢出重復(fù)精度

0.05°(at 3σ) ※2

檢出器

偏光計測模塊

測量光斑直徑

2.2mm×2.2mm

光源

100W 鹵素燈或 LED光源

本體?重量

300(W) × 560(H) ×430(D) mm 、約20kg

 Option
? Rth測量、全方位角測量※治具本體(旋轉(zhuǎn):180°, 傾斜:±50°)

? 動旋轉(zhuǎn)傾斜治具

株式會社タマサキ精密測定機器の総合商社
香港玉崎有限公司
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手機:(+86)15902189399

郵箱:suz@tamasaki.com
網(wǎng)址:http://www.ktts.net
營業(yè)部:黃羅龍

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