熱門搜索：
代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點(diǎn)光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機(jī)、NEWKON新光、TOKISANGYO東機(jī)產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計(jì)裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機(jī)、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機(jī)、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
產(chǎn)品中心
-
CEDAR思達(dá)
-
Stucchi思多奇
-
NITTO KOHKI日...
-
Sankei
-
KYOWA協(xié)和工業(yè)
- DIT東日技研
- AITEC艾泰克
-
SIGMAKOKI西格瑪...
- REVOX萊寶克斯
- CCS 希希愛視
- SIMCO思美高
- POLARI0N普拉瑞
- HOKUYO北陽電機(jī)
- SSD西西蒂
- EMIC 愛美克
- TOFCO東富科
-
打印機(jī)
- HORIBA崛場
- OTSUKA大冢電子
- MITAKA三鷹
- EYE巖崎
- KOSAKA小坂
-
SAGADEN嵯峨電機(jī)
- TOKYO KEISO東...
- takikawa 日本瀧...
- Yamato雅馬拓
- sanko三高
- SEN特殊光源
-
SENSEZ 靜雄傳感器
- marktec碼科泰克
- KYOWA共和
- FUJICON富士
- SANKO山高
-
Sugiyama杉山電機(jī)
-
Osakavacuum大...
-
YAMARI 山里三洋
- ACE大流量計(jì)
- KEM京都電子
- imao今尾
- AND艾安得
- EYELA東京理化
- ANRITSU安立計(jì)器
- JIKCO 吉高
- NiKon 尼康
- DNK科研
- Nordson諾信
- PISCO匹斯克
- NS精密科學(xué)
- NDK 日本電色
-
山里YAMARI
- SND日新
-
Otsuka大塚電子
- kotohira琴平工業(yè)
- YAMABISHI山菱
- OMRON歐姆龍
- SAKURAI櫻井
- UNILAM優(yōu)尼光
-
氙氣閃光燈
-
UV反轉(zhuǎn)曝光系統(tǒng)
-
UV的水處理
-
檢測系統(tǒng)
-
光照射裝置
-
點(diǎn)光源曝光
-
變壓型電源供應(yīng)器
-
超高壓短弧汞燈
-
UV光洗凈
-
UV曝光裝置
-
uv固化裝置
-
紫外可見光光度計(jì)
產(chǎn)品展示
-
多功能多通道光譜探測器，支持從紫外到近紅外區(qū)域。 光譜測量可在 5 毫秒內(nèi)進(jìn)行。 標(biāo)準(zhǔn)儀器的光纖支持各種測量系統(tǒng)，無需識別樣品類型。 除了顯微分光、光源發(fā)射、透射和反射測量外，它還與軟件相結(jié)合，支持物體顏色評估和薄膜厚度測量。
-
它是一種延遲測量設(shè)備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實(shí)現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進(jìn)行測量。 此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實(shí)現(xiàn)高精度測量。
-
特點(diǎn) 使用靜態(tài)光散射法測量優(yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維系數(shù)是可能的。 可以對 Zimm 繪圖、伯利圖、Zimm 平方根圖、單濃度圖和 Debye 圖進(jìn)行各種分析。 系統(tǒng)將詢問您如何安排您的會議。 可選的桿單元支架可實(shí)現(xiàn)光纖材料（散裝）的優(yōu)良散射強(qiáng)度測量。
-
使用動態(tài)光散射方法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布）是可能的。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。 相關(guān)計(jì)高達(dá) 4096ch，可實(shí)現(xiàn)多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉(zhuǎn)單元結(jié)合使用時，可以分析凝膠狀態(tài)。
-
特點(diǎn) 使用動態(tài)光散射法測量顆粒大小和顆粒大小分布（顆粒大小和顆粒大小分布），并使用靜態(tài)光散射方法測量優(yōu)良分子量、慣性半徑和第 二維真實(shí)系數(shù)。 您可以選擇 He-Ne 激光、固態(tài)激光和雙激光規(guī)格。 采用浸入式細(xì)胞光學(xué)系統(tǒng)，可以高精度地測量微弱散射的納米級粒子。 相關(guān)計(jì)高達(dá) 4096ch，可實(shí)現(xiàn)多模式分析，如聚合物濃縮溶液。 與可選的凝膠旋轉(zhuǎn)單元結(jié)合使用時，可以分析凝膠狀態(tài)。
-
散射角度為0.33~45°的測量*短為10msec※可以測量 評估亞微米至數(shù)百微米的結(jié)構(gòu) 使用專用電池測量溶液樣品 在軟式 Hv 散射和 Vv 散射測量中輕松切換 桌面類型，可安裝在實(shí)驗(yàn)室中 ※不使用HDR功能時
-
一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實(shí)現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進(jìn)行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實(shí)現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復(fù)雜的操作 內(nèi)置非浸沒式細(xì)胞塊，無分包的無孔， 每個細(xì)胞都是獨(dú)立的，因此無需擔(dān)心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設(shè)置溫度
-
■納米SAQLA的特點(diǎn) 一臺儀器可輕松連續(xù)測量 5 個樣本，無需自動采樣器即可實(shí)現(xiàn) 多個樣本的連續(xù)測量，也可以通過改變每個樣本的條件進(jìn)行測量。 支持從稀釋到厚系統(tǒng) 標(biāo)準(zhǔn)測量時間 1 分鐘的高速測量 自動調(diào)整從厚系統(tǒng)到稀薄樣品的*佳測量位置，實(shí)現(xiàn)約 1 分鐘的高速測量 簡單易懂的測量功能（只需單擊一下即可 開始測量），無需復(fù)雜的操作 內(nèi)置非浸沒式細(xì)胞塊，無分包的無孔， 每個細(xì)胞都是獨(dú)立的，因此無需擔(dān)心不成問題。 配備 溫度梯度功能，可輕松設(shè)置溫度
-
特點(diǎn) *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進(jìn)行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒尺寸測量
-
特點(diǎn) *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進(jìn)行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量 支持懸浮高濃度樣品的Zeta電位測量 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結(jié)果，用于測量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
-
特點(diǎn) *新的高靈敏度 APD 可提高靈敏度并縮短測量時間 通過自動溫度梯度測量進(jìn)行變性/相變溫度分析 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量 增加了廣泛的分子量測量和分析功能 支持懸浮高濃度樣品的顆粒直徑和Zeta電位測量 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結(jié)果，用于測量單元中的電滲透流 支持高鹽濃度溶液的Zeta電位測量 支持小面積樣品的平板Zeta電位測量
-
從稀釋到濃縮的溶液（~40%）*1可在廣泛的濃度范圍內(nèi)測量顆粒大小和 Zeta 電位 多角度測量可實(shí)現(xiàn)高分離粒徑分布的測量 可在高鹽濃度下測量平板樣品的Zeta電位 使用靜態(tài)光散射法測量顆粒濃度 動態(tài)光散射法可實(shí)現(xiàn)微流變測量 通過多點(diǎn)測量凝膠樣品，可以評估凝膠的網(wǎng)狀結(jié)構(gòu)和異質(zhì)性 標(biāo)準(zhǔn)流單元可連續(xù)測量顆粒大小和 Zeta 電位 可在 0 至 90°C 的寬溫度范圍內(nèi)進(jìn)行測量 溫度梯度功能允許蛋白質(zhì)的變性和相變溫度分析 通過測量和繪圖分析，提供高精度的 Zeta 電位測量結(jié)果，用于測量單元中的電滲透流 可安裝熒光切割過濾器（可選）
-
評估光源在紫外區(qū)域的輻射強(qiáng)度。 ? 通過光譜輻射測量高精度測量 亮度 ，支持 紫外、可見、紅外和廣泛的測量波長范圍，可實(shí)現(xiàn)光生物學(xué)**評估 這是一個有限的設(shè)備，可以測量紫外線的亮度。
-
評估紫外 LED 的輻射束。 ? 高性能紫外 LED 的輸出評估 與溫度控制單元結(jié)合使用時，溫度評估 支持紫外線 LED 的光學(xué)特性評估，預(yù)計(jì)這些特性是**、凈化和樹脂固化。
