国产av导航大全精品,av黄鳝钻进女人下面,成人午夜高潮a∨猛片,а√天堂资源在线,97久章草在线视频播放

產(chǎn)品中心
  • ONO SOKKI小野測(cè)...
  • U-Technology...
  • ITON伊藤
  • chuhatsu中央發(fā)明...
  • TOADKK東亞
  • HOYA豪雅
  • COSMOS日本新宇宙
  • UENO上野精機(jī)
  • DSK電通產(chǎn)業(yè)
  • POLARION普拉瑞
  • LUCEO魯機(jī)歐
  • ThreeBond三鍵
  • HAMAMASTU濱松
  • TML東京測(cè)器
  • SHINAGAWA SO...
  • IMV愛(ài)睦威
  • custom 東洋計(jì)量
  • yuasa 尤阿薩
  • HAYASHI林時(shí)計(jì)
  • SIBATA柴田科學(xué)
  • SEN日森特殊光源
  • HSK 平原精機(jī)
  • SOMA相馬光學(xué)
  • iwata巖田
  • MUSASHI武藏
  • USHIO牛尾
  • ACTUNI阿庫(kù)圖
  • ORC歐阿希
  • DRY-CABI德瑞卡比
  • COSMO科斯莫
  • SHOWASOKKI昭和...
  • CHUBUSEKI中部精...
  • SAMCO薩姆肯
  • navitar 納維塔
  • ASKER 高分子計(jì)器
  • KOSAKA Labor...
  • EMIC愛(ài)美克
  • OPTEX奧泰斯
  • NISSIN日進(jìn)電子
  • TANDD 蒂和日
  • FUJI TERMINA...
  • TAKASAGO高砂
  • TAKIKAWA瀧川
  • SUGAWARA菅原
  • MACOME碼控美
  • FURUKAWA古河
  • TSUBOSAKA壺坂
  • mitutoyo 三豐
  • HAYASHI 林時(shí)計(jì)
  • HOZAN 寶山
  • FEI SEM電子顕微鏡
  • YUASA尤阿薩
  • SAKAGUCHI坂口電...
  • MDCOM 株式會(huì)社
  • inflidge 英富麗
  • RKC 理化工業(yè)
  • MORITEX茉麗特
  • LIGHTING 光屋L...
  • TEITSU帝通
  • Excel聽(tīng)音機(jī)
  • SERIC索萊克
  • FUJI富士化學(xué)
  • TONCON拓豐
  • SHINKO新光電子
  • Ono Sokki 小...
  • 樂(lè)彩
  • IIJIMA 飯島電子
  • THOMAS托馬斯
  • JIKCO吉高
  • 分散材料研究所
  • NAVITAR納維塔
  • Cho-Onpa 超音波...
  • revox 萊寶克斯
  • Toki Sangyo ...
  • SUPERTOOL世霸
  • EIWA榮和
  • FUJITERMINAL...
  • TOYOX東洋克斯
  • AMAYA天谷制作所
  • TSUBAKI NAKA...
  • TOPCON 拓普康
  • NIKKATO日陶
  • ITOH伊藤
  • NEWKON新光
  • SIBATA柴田
  • TAISEI
  • MITSUI三井電氣
  • 加熱器
    • 新聞詳情

    日本HORIBA堀場(chǎng)制作所：橢圓偏振光譜儀

    日期：2025-07-04 16:18
    瀏覽次數(shù)：131
    摘要：日本HORIBA堀場(chǎng)堀場(chǎng)制作所：日本HORIBA堀場(chǎng)橢圓偏振光譜儀，日本HORIBA堀場(chǎng)橢偏儀，橢圓偏振光譜儀（ellipsometer），簡(jiǎn)稱(chēng)橢偏儀，是一種利用材料的光學(xué)特性進(jìn)行光學(xué)常數(shù)、微結(jié)構(gòu)分析和薄膜厚度測(cè)量的一種儀器。由于橢偏儀的測(cè)量過(guò)程不需要與樣品直接接觸，不會(huì)對(duì)材料表面造成損壞，也不需要真空環(huán)境，因此它成為一種簡(jiǎn)便、快捷、易于實(shí)現(xiàn)的材料測(cè)量?jī)x器。 橢偏儀的主要分析材料為半導(dǎo)體材料、電介質(zhì)、聚合物材料等。而且由于橢偏測(cè)量技術(shù)作為一種無(wú)損測(cè)試技術(shù)，對(duì)材料的表面損傷很小，因此也可以被用作生物樣品的表面檢測(cè)。

    堀場(chǎng)（中國(guó)）貿(mào)易有限公司是HORIBA集團(tuán)在中國(guó)的總部。
    1996年2月，HORIBA堀場(chǎng)制作所 [3] 在北京來(lái)開(kāi)設(shè)了駐華辦事處，為進(jìn)入中國(guó)市場(chǎng)做準(zhǔn)備。2002年7月，作為堀場(chǎng)(HORIBA)集團(tuán)在中國(guó)的生產(chǎn)銷(xiāo)售和售后服務(wù)的據(jù)點(diǎn)，獨(dú)資企業(yè)“堀場(chǎng)儀器（上海）有限公司 [2]  ”正式成立。在此基礎(chǔ)上，2004年，為統(tǒng)轄中國(guó)區(qū)業(yè)務(wù)，“堀場(chǎng)(中國(guó))貿(mào)易有限公司”應(yīng)運(yùn)而生。

    日本HORIBA堀場(chǎng)制作所：橢圓偏振光譜儀


    薄膜表征的有效技術(shù)
    橢圓偏振光譜是一種表面敏感、非破壞性、非侵入性的光學(xué)技術(shù)，廣泛應(yīng)用于薄層和表面特征。它基于線偏振光經(jīng)過(guò)薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過(guò)模型擬合獲得厚度以及光學(xué)常數(shù)等。根據(jù)薄膜材料的不同，可測(cè)量的厚度從幾個(gè)?到幾十微米。橢圓偏振光譜是一種很好的多層膜測(cè)量技術(shù)。

    橢圓偏振光譜儀可以表征薄膜的一系列特性，如膜厚、光學(xué)特性(n,k)、光學(xué)帶隙、界面和粗糙度厚度，薄膜組成，膜層均一性，等等。

    日本HORIBA堀場(chǎng)制作所：橢圓偏振光譜儀

    橢圓偏振光譜適合分析的材料包括半導(dǎo)體、電介質(zhì)、聚合物、有機(jī)物和金屬。也可用于研究固-液或液-液界面。
    HORIBA橢圓偏振光譜儀采用新型高頻偏振調(diào)制技術(shù)，測(cè)試過(guò)程中無(wú)任何機(jī)械旋轉(zhuǎn)。與傳統(tǒng)橢偏儀相比，更快的測(cè)試速度、更寬的測(cè)量范圍以及更高的表征精度。

    Auto SE - 自動(dòng)化薄膜測(cè)量工具一鍵式全自動(dòng)快速HORIBA堀場(chǎng)橢偏儀


    日本HORIBA堀場(chǎng)制作所：橢圓偏振光譜儀

    Auto SE是一種新型薄膜測(cè)量工具。僅需簡(jiǎn)單的幾個(gè)按鈕，幾秒鐘內(nèi)即可自動(dòng)完成樣品測(cè)量和分析，并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告，包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過(guò)率。
    Auto SE全自動(dòng)化設(shè)計(jì)、一鍵式操作，功能齊全。配備自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)進(jìn)行成像分析，自動(dòng)切換微光斑，多種附件可選，以滿(mǎn)足不同的應(yīng)用需求。
    Auto SE借助完整的操作向?qū)?，自?dòng)檢測(cè)并診斷問(wèn)題，對(duì)故障進(jìn)行處理，儀器維護(hù)簡(jiǎn)單
    Auto SE是用于快速薄膜測(cè)量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。
    光譜范圍：440-1000nm
    光斑尺寸：7個(gè)尺寸微光斑全自動(dòng)切換500x500 μm; 250x500 μm; 250x250 μm; 70x250 μm; 100x100 μm; 50x60 μm; 25x60 μm
    探測(cè)系統(tǒng)：CCD，分辨率2nm
    樣品臺(tái)：真空吸盤(pán)，Z軸行程40mm
    光斑可視系統(tǒng)：CCD攝像機(jī)-視野1.33x1 mm-分辨率10μm
    量角器：固定角70°，也可選擇66°或61.5°
    多種附件可選
    測(cè)試時(shí)間：<2s，常規(guī)為5s
    準(zhǔn)確性：NIST 100nm d ± 4?, n(632.8nm) ± 0.002
    重復(fù)性：NIST 15nm ± 0.2 ?


    日本HORIBA堀場(chǎng)制作所：橢圓偏振光譜儀

    HORIBA堀場(chǎng)橢圓偏振光譜儀（ellipsometer），簡(jiǎn)稱(chēng)橢偏儀，是一種利用材料的光學(xué)特性進(jìn)行光學(xué)常數(shù)、微結(jié)構(gòu)分析和薄膜厚度測(cè)量的一種儀器。由于橢偏儀的測(cè)量過(guò)程不需要與樣品直接接觸，不會(huì)對(duì)材料表面造成損壞，也不需要真空環(huán)境，因此它成為一種簡(jiǎn)便、快捷、易于實(shí)現(xiàn)的材料測(cè)量?jī)x器。

    橢偏儀的主要分析材料為半導(dǎo)體材料、電介質(zhì)、聚合物材料等。而且由于橢偏測(cè)量技術(shù)作為一種無(wú)損測(cè)試技術(shù)，對(duì)材料的表面損傷很小，因此也可以被用作生物樣品的表面檢測(cè)。


    UVISEL PLUSHORIBA堀場(chǎng)橢圓偏振光譜儀
    研究級(jí)經(jīng)典型橢偏儀
    光譜范圍從FUV到NIR：190-2100nm
    UVISEL Plus橢圓偏振光譜儀為先進(jìn)薄膜、表面和界面表征提供了模塊化和性能的優(yōu)化組合。
    UVISEL Plus作為一款高準(zhǔn)確性、高靈敏度、高穩(wěn)定性的經(jīng)典橢偏機(jī)型，它采用了PEM 相位調(diào)制技術(shù)，與機(jī)械旋轉(zhuǎn)部件技術(shù)相比， 能提供更好的穩(wěn)定性和信噪比。光譜范圍從190nm到2100nm。
    UVISEL Plus集成了全新的FastAcqTM快速采集技術(shù)，可在3分鐘以?xún)?nèi)實(shí)現(xiàn)高分辨的樣品測(cè)試（190-2100 nm），校準(zhǔn)僅需幾分鐘?；谌碌碾娮釉O(shè)備，數(shù)據(jù)處理和高速單色儀，F(xiàn)astAcq技術(shù)能夠?yàn)橛脩?hù)提供高分辨及快速的數(shù)據(jù)采集。FastAcq專(zhuān)門(mén)為薄膜表征設(shè)計(jì)，雙調(diào)制技術(shù)可以確保您獲得優(yōu)異的測(cè)試結(jié)果。
    相位調(diào)制技術(shù)的獨(dú)有特點(diǎn)為高頻調(diào)制 50 kHz，信號(hào)采集過(guò)程無(wú)移動(dòng)部件：
    測(cè)試全范圍的橢偏角，Ψ (0-90)，Δ (0-360)
    從FUV到NIR具有優(yōu)良的信噪比
    數(shù)據(jù)采集速度快，高達(dá)50毫秒/點(diǎn)，是動(dòng)力學(xué)研究和在線測(cè)量的理想選擇
    相比于采用 旋轉(zhuǎn)元件調(diào)制的傳統(tǒng)橢圓偏振光譜儀，UVISEL Plus的相位調(diào)制模式在表征薄膜方面具有更高的靈敏度和精度。它不僅可以探測(cè)到其他橢偏儀無(wú)法觀測(cè)到的極薄膜或界面，還可以表征50μm的厚膜。
    在測(cè)試有背反射的透明樣品時(shí)，測(cè)試簡(jiǎn)單、準(zhǔn)確，無(wú)需刮花背面。
    UVISEL Plus還設(shè)計(jì)有多種附件及可選功能，便于客戶(hù)根據(jù)應(yīng)用需求及預(yù)算選擇合適的配置。比如，微光斑用于圖案樣品、自動(dòng)變角器、自動(dòng)樣品臺(tái)等。
    UVISEL Plus采用模塊化設(shè)計(jì)，可靈活擴(kuò)展。即可用于離線臺(tái)式測(cè)量，也可以耦合于鍍膜設(shè)備做在線監(jiān)控。
    UVISEL Plus可根據(jù)習(xí)慣選擇操作界面，一個(gè)是 DeltaPsi2 具有建模和擬合處理功能；另一個(gè)是 Auto-Soft 用戶(hù)導(dǎo)向的全自動(dòng)樣品測(cè)試界面 ，工作流程直觀，易于非專(zhuān)業(yè)人士操作。
    UVISEL Plus搭載FastAcq技術(shù)是材料研究和加工、平板顯示、微電子和光伏領(lǐng)域中優(yōu)選通用光譜型橢偏儀。
    UVISEL Plus是材料科學(xué)研究的理想工具。


    日本HORIBA堀場(chǎng)制作所：橢圓偏振光譜儀

    蘇公網(wǎng)安備 32050502000409號(hào)