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OTSUKA大塚電子VR行業(yè)相位差膜RETS-100nx

日期:2025-07-03 20:52
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摘要:OTSUKA大塚電子相位差膜RETS-100nx 是一種延遲測量設備,適用于所有薄膜,包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。 實現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。 薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進行測量。 此外,它還配備了簡單的軟件和校正功能,通過重新放置樣品來糾正偏差,從而輕松實現(xiàn)高精度測量。

OTSUKA大塚電子相位差膜RETS-100nx 是一種延遲測量設備,適用于所有薄膜,包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。

實現(xiàn)超高Re.60000nm的高速、高精度測量。

薄膜的層壓狀態(tài)可以通過“無剝離、無損”進行測量。

此外,它還配備了簡單的軟件和校正功能,通過重新放置樣品來糾正偏差,從而輕松實現(xiàn)高精度測量。



*適合光學薄膜的偏振特性評估,如延遲(雙折射相位差)的波長色散評估、方向角(光學軸)和粘合角度的自動檢測


詳細介紹一下RETS-100 和 RETS-100nx

特點





探測器采用多通道光譜儀,可在任意波長下進行高精度延遲(雙折射相位差)測量。





  • 通過選擇傾斜和旋轉(zhuǎn)階段(可選),可以進行視角表征,如三維折射率參數(shù)分析。
  • 根據(jù)測量對象,可以構(gòu)建自由樣品階段。
  • 微距離(0.1nm*)可以**測量。




測量項目

  • 延遲(雙折射相位差)
  • 延遲(雙折射相位差)的波長色散
  • 樣品傾角
  • 方位角和橢圓率
  • 偏振度測量
  • 光譜測量
  • 色度測量
  • 三維折射率參數(shù)分析
  • 海茲*
  • 光彈性*

應用

  • 光學膜相位差膜、橢圓膜、相位差板偏振膜、附加功能偏振膜、偏振板
  • 液晶材料、液晶電池偏振測量偏振光學元件、單元(TN、STN、IPS、VA、OCB)


光學系











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