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    otsukael大塚RETS-100光學(xué)相位差測量儀

    日期：2025-07-03 14:14
    瀏覽次數(shù)：422
    摘要：otsukael大塚從事分光儀、分光光度計、攝譜儀、理化分析儀器、裝置和其他測量或檢驗儀器、器具、機器商品（包含相應(yīng)零部件、消耗品）的批發(fā)、進出口、傭金代理及相關(guān)配套業(yè)務(wù)等。

    本設(shè)備是利用瞬間多通道測光檢出器和自動大型Ｘ－Ｙ平臺以及偏光光學(xué)系，測定透過型液晶面板面內(nèi)的cellgap和預(yù)斜角（含ＭＶＡ）的系統(tǒng)。

      本Software自動制御偏光Prism unit和MCPD，測量LCD Cell Gap以及Pre-tilt角的測量。每個Sample品種，會準(zhǔn)備Recipe（測量條件File）所以O(shè)perator 放置Sample后，選擇Recipe，即可實現(xiàn)高精度測量。


    相位差光學(xué)材料量

    產(chǎn)品特點：可更加精準(zhǔn)的量測低相位差(0.1nm～)*適合作為評估相位差的波長分散、自動檢測配向角(光學(xué)軸)或角度配向性等光學(xué)膜偏光特性的裝置。檢測器采用多頻譜分光光譜儀，rets設(shè)備，展現(xiàn)任一個波長的高精度相位差量測。


    光學(xué)薄膜

    相位差膜、橢圓膜、相位差板

    偏光膜、附加功效偏光膜、偏光板、別的光學(xué)資料

    ■液晶層

    穿透、半穿透型液晶層(TFT、TN、STN、IPS 、VA、OCB、強誘電性液晶)

    反射型液晶層(TN，STN)




    本裝置是photonic結(jié)晶偏光子arrayh和CCD camera構(gòu)成的專用偏光計測模組和透過偏光光學(xué)系相結(jié)合進行測定橢圓率，rets-100測試儀，方位角、從偏光film.位相差film貼合品的兩面之測定，進而演算其吸收軸，光軸，rets，相對角、RE的裝置。

      本設(shè)備是利用瞬間多通道測光光譜儀以及偏光光學(xué)系高速測量透過型封入完成后的LCD Cell（TN，rets相位差膜測試，IPS，MVA）的Gap以及Pre-tilt角。附有自動XY-stage以及自動傾斜旋轉(zhuǎn)stage的2個Sample stage。Calibration時，自動set基準(zhǔn)sample。



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